La micro-empreinte Baumann à haute résolution pour la mise en évidence de microségrégations de soufre à l’échelle de la microscopie électroniqueG. Moulin, J. Ovejero Garcia, C. Haut, M. Aucouturier and M. DadianRev. Met. Paris, 75 11 (1978) 627-632DOI: https://doi.org/10.1051/metal/197875110627
