Spectroscopie d’absorption X pour la caractérisation structurale de films minces et de superréseaux métalliquesH. Fischer, S. Andrieu, A. Barbara, A. Traverse and M. PiécuchRev. Met. Paris, 96 9 (1999) 1057-1066DOI: https://doi.org/10.1051/metal/199996091057
